掃描電鏡中觀察顆粒尺寸分布的方法

在掃描電子顯微鏡（SEM）中觀察顆粒尺寸分布，通常需要結(jié)合樣品制備、圖像采集和數(shù)據(jù)分析。

使用掃描電鏡時(shí)為什么需要高真空環(huán)境？

在掃描電子顯微鏡SEM中需要高真空環(huán)境，主要原因有以下幾個(gè)方面：

提升掃描電子顯微鏡（SEM）的分辨率，本質(zhì)上就是要讓電子束更細(xì)、更穩(wěn)定地聚焦到樣品表面，并減少信號(hào)干擾。

掃描電鏡（SEM）圖像模糊是一個(gè)常見(jiàn)問(wèn)題，通常和儀器狀態(tài)、成像參數(shù)、樣品條件有關(guān)。

在掃描電鏡（SEM）觀察樣品時(shí)，很多情況下需要對(duì)樣品進(jìn)行鍍金或鍍碳處理。

大多數(shù)掃描電鏡（SEM）的樣品臺(tái)都具備旋轉(zhuǎn)和傾斜功能，目的是為了更靈活地觀察樣品不同角度的結(jié)構(gòu)。

掃描電鏡（SEM）樣品尺寸能否放入主要取決于樣品室大小、樣品臺(tái)載物面積和探頭或樣品夾具的空間限制。

在掃描電鏡（SEM）里，樣品容易充電是因?yàn)殡娮邮Z擊后，樣品表面的電子無(wú)法及時(shí)泄放，累積成電荷，導(dǎo)致圖像發(fā)亮、漂移、甚至嚴(yán)重失真。