掃描電鏡常見的信號有哪些？

在掃描電鏡（SEM）里，成像和分析依賴不同類型的電子信號，常見信號主要有以下幾種：

樣品在掃描電鏡中為什么會出現充電現象？

在掃描電鏡里，樣品表面出現充電現象主要是因為樣品導電性不足，電子束打到樣品表面后，電荷不能及時導走，在局部累積造成的。

亮暗對比是掃描電鏡（SEM）圖像基本的特征之一。亮暗對比的形成，主要來自樣品表面與電子束相互作用后信號的差異。

在掃描電鏡（SEM）里，圖像是通過電子束掃描和信號采集生成的，像素大小與放大倍數和工作條件直接相關。

掃描電鏡（SEM）并不能直接測量樣品的厚度，因為 SEM 的成像原理是基于電子束與樣品表面相互作用后產生的二次電子。

掃描電鏡（SEM）能看到的最小結構，取決于它的分辨率，而分辨率又受電子槍類型、加速電壓、樣品制備和探測模式等因素影響。

在掃描電子顯微鏡（SEM）中，電子束與樣品相互作用會產生多種信號，不同的檢測模式對應不同的物理信息。

掃描電鏡（SEM）之所以必須在真空環境下工作，主要有以下幾個原因：