澤攸科技ZEM系列掃描電鏡 | 稀土鎂合金在不同載荷下的變形與失效機制
澤攸科技ZEM系列掃描電鏡是一款集成度高、便攜性強且經濟實用的科研設備。它具備快速抽真空、高成像速度、多樣的信號探測器選擇,適用于形貌觀測和成分分析,還能適配多種原位實驗需求。
MORE INFO → 掃描電子顯微鏡 2026-01-09
澤攸科技ZEM系列掃描電鏡是一款集成度高、便攜性強且經濟實用的科研設備。它具備快速抽真空、高成像速度、多樣的信號探測器選擇,適用于形貌觀測和成分分析,還能適配多種原位實驗需求。
MORE INFO → 掃描電子顯微鏡 2026-01-09
無論是通過ZEM系列掃描電子顯微鏡觀察微觀結構,還是借助JS系列臺階儀量化薄膜參數,這些工具的價值都在于讓工程決策建立在可驗證的數據之上。
MORE INFO → 臺階儀 2026-01-09
澤攸科技作為中國本土的精密儀器公司,是原位電子顯微鏡表征解決方案的一流供應商,推出的PicoFemto系列的原位透射電子顯微鏡表征解決方案,陸續為國內外用戶的重磅研究成果提供了技術支持。
MORE INFO → TEM原位解決方案 2026-01-09
以澤攸科技的二維材料轉移臺,它融合成像、加熱、吸附、多軸協作等功能,是實驗室構建范德華異質結構的重要工具。
MORE INFO → 二維材料轉移臺 2026-01-09
澤攸科技作為中國本土的儀器公司,是原位電子顯微鏡表征解決方案的一流供應商,推出的PicoFemto系列的原位透射電子顯微鏡表征解決方案,陸續為國內外用戶的重磅研究成果提供了技術支持。
MORE INFO → TEM原位解決方案 2025-12-24
從NanoMi到澤攸科技,我們看到了一條清晰的技術進化路徑。NanoMi以開源的精神,向我們揭示了電子光學的第一性原理:用靜電場構建透鏡,用電壓控制軌跡。
MORE INFO → 掃描電子顯微鏡 2025-12-24
澤攸科技JS系列臺階儀作為國產高精度表面測量設備的代表,憑借其創新的技術架構、靈活的應用場景及可靠的測量性能,可以對微納結構進行膜厚和臺階高度、表面形貌、表面波紋和表面粗糙度等的測量。
MORE INFO → 臺階儀 2025-12-05
長期以來,電子顯微鏡被視為精密儀器皇冠上的明珠,但其龐大的體積、高昂的造價以及復雜的維護體系,使其成為一個令普通實驗室望而卻步的“黑盒”。
MORE INFO → 掃描電子顯微鏡 2025-12-05