掃描電鏡樣品表面有放電現象怎么處理？

掃描電鏡（SEM）中樣品表面放電（充電效應）會嚴重干擾成像，表現為亮斑、圖像扭曲或閃爍。

掃描電鏡怎樣獲得樣品的成分信息？

在掃描電鏡（SEM）中獲取樣品成分信息，主要通過能譜儀（EDS）和背散射電子（BSE）成像實現。

掃描電鏡（SEM）能夠觀察多種類型的樣品，但其制備要求和成像效果因樣品性質（導電性、耐電子束能力、含水量等）而異。

當掃描電鏡（SEM）開機后電子束無法對中時，可按以下步驟系統排查和調整：

掃描電鏡（SEM）對樣品尺寸和厚度的限制主要取決于其腔室設計、樣品臺承載能力、探測器類型以及電子束穿透深度等因素。

樣品在進入掃描電鏡（SEM）觀察之前，為確保圖像質量和避免損傷，通常需要進行適當的前處理。

判斷樣品表面是否被掃描電鏡的電子束燒蝕，通常可從圖像特征、操作變化及后處理觀察中綜合分析。

判斷掃描電鏡（SEM）圖像中的條紋是否為干擾（artifact），可以從以下幾個方面著手分析：