如何校準(zhǔn)掃描電鏡的倍率？

校準(zhǔn)掃描電鏡（SEM）的倍率是確保圖像尺寸測量準(zhǔn)確可靠的關(guān)鍵步驟。

如何在掃描電鏡中精確定位觀察區(qū)域？

在掃描電子顯微鏡（SEM）中精確定位觀察區(qū)域是獲得有代表性圖像和高質(zhì)量分析的基礎(chǔ)。

樣品在掃描電子顯微鏡（SEM）中的放置角度確實(shí)會影響獲得的圖像質(zhì)量和信息。

掃描電鏡（SEM）圖像的尺寸標(biāo)定是為了確保圖像上的距離測量與實(shí)際物理尺寸相對應(yīng)。

樣品的偏斜角度會顯著影響掃描電鏡（SEM）的成像效果。

掃描電鏡（SEM）拍攝圖像出現(xiàn)拖影（smearing、streaking 或 shadowing），通常表現(xiàn)為圖像邊緣模糊、重復(fù)輪廓或拉長的影子。

判斷掃描電鏡（SEM）下樣品是否被污染，通常可以通過以下幾個方面進(jìn)行觀察和分析：

非導(dǎo)電樣品在掃描電鏡（SEM）中成像時會面臨一個主要問題：電荷積累（charging）。因?yàn)殡娮邮Z擊非導(dǎo)體后，電子無法迅速導(dǎo)出，導(dǎo)致樣品表面積累負(fù)電荷，從而產(chǎn)生圖像漂移、亮度不均甚至成像失敗。