掃描電鏡樣品臺能旋轉和傾斜嗎？

大多數掃描電鏡（SEM）的樣品臺都具備旋轉和傾斜功能，目的是為了更靈活地觀察樣品不同角度的結構。

掃描電鏡樣品需要多大尺寸才能放進去？

掃描電鏡（SEM）樣品尺寸能否放入主要取決于樣品室大小、樣品臺載物面積和探頭或樣品夾具的空間限制。

在掃描電鏡（SEM）里，樣品容易充電是因為電子束轟擊后，樣品表面的電子無法及時泄放，累積成電荷，導致圖像發亮、漂移、甚至嚴重失真。

在掃描電鏡（SEM）里，成像和分析依賴不同類型的電子信號，常見信號主要有以下幾種：

在掃描電鏡里，樣品表面出現充電現象主要是因為樣品導電性不足，電子束打到樣品表面后，電荷不能及時導走，在局部累積造成的。

亮暗對比是掃描電鏡（SEM）圖像基本的特征之一。亮暗對比的形成，主要來自樣品表面與電子束相互作用后信號的差異。

在掃描電鏡（SEM）里，圖像是通過電子束掃描和信號采集生成的，像素大小與放大倍數和工作條件直接相關。

掃描電鏡（SEM）并不能直接測量樣品的厚度，因為 SEM 的成像原理是基于電子束與樣品表面相互作用后產生的二次電子。