透射電鏡原位光學(xué)樣品桿廠家-樣品桿價格
日期：2022-05-17
PicoFemto系列透射電鏡原位光學(xué)樣品桿，基于TEM-STM樣品桿技術(shù)，樣品桿內(nèi)集成光纖，桿末端可外接光源或光譜儀，實現(xiàn)透射電鏡內(nèi)的光電測量或光譜學(xué)表征研究。
PicoFemto 系列透射電子顯微鏡 原位光學(xué)樣品桿 是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元，同時集成光纖單元，可外接光源或光譜儀，開展光電測量及光譜學(xué)分析，大大地擴展了透射電子顯微鏡的功能與應(yīng)用領(lǐng)域。
原位光學(xué)樣品桿-技術(shù)指標(biāo)
| 電學(xué)測量 | 光纖指標(biāo) |
| 1.包含一個電流電壓測試單元； | 1.芯徑可選，外徑250um； |
| 2.電流測量范圍：1nA-30mA； | 2.光纖探針、平頭光纖、光纖透鏡多種方案可選； |
| 3.電流分辨率：100fA； | 3.光纖快拆接口：SMA、FC等； |
| 4.電壓輸出范圍：±10V，±150V； | 4.光源可選：4波段半導(dǎo)體激光器、波長連續(xù)可調(diào)氙燈光源； |
| 5.軟件自動測量：I-V、I-t | 5.光譜儀：根據(jù)用戶具體需求匹配 |
Optomechanical Properties of MoSe2 Nanosheets as Revealed by InSitu Transmission Electron Microscopy
doi.org/10.1021/acs.nanolett.1c03796
Nano Lett. 2022, 22, 2, 673–679
原位光學(xué)樣品桿-產(chǎn)品選型
原位光學(xué)樣品桿 具有單傾、雙傾兩個版本，用戶可根據(jù)實際實驗需求自行選擇。
澤攸科技提供適配Thermofisher/FEI（賽默飛）、JEOL（日本電子）、Hitachi（日立）各型號透射電子顯微鏡及極靴的不同型號光學(xué)樣品桿，同時保證透射電鏡原有分辨率。
原位光學(xué)樣品桿-同內(nèi)部分用戶
原位光學(xué)樣品桿-典型案例
1、透射電鏡內(nèi)的原位光電測量實驗；
2、透射電鏡內(nèi)的陰極發(fā)光（CL）實驗；
3、透射電鏡內(nèi)的原位電致發(fā)光譜實驗。
安徽澤攸科技有限公司是原位光學(xué)樣品桿生產(chǎn)廠家，關(guān)于原位光學(xué)樣品桿價格請咨詢
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作者：澤攸科技
