樣品桿是一種用于支持和操縱樣品的裝置，它通常用于各種科學研究、實驗和分析儀器中。以下是一些常見使用樣品桿的儀器：

電子顯微鏡： 電子顯微鏡是一種使用電子束代替可見光進行高分辨率圖像觀察的儀器。在透射電子顯微鏡（TEM）和掃描電子顯微鏡（SEM）中，樣品桿用于支撐樣品并將其放置在電子束的路徑上，以便進行觀察和分析。

透射電子顯微鏡：在TEM中，樣品桿用于支撐薄片樣品，并將樣品放置在電子束的路徑中，以便電子束能夠透過樣品并形成高分辨率的透射電子圖像。

掃描電子顯微鏡：在SEM中，樣品桿用于固定和支撐樣品，使得電子束可以掃描樣品表面并獲取高分辨率的表面形貌圖像。

X射線衍射儀器：X射線衍射儀器用于研究晶體結構和晶體的晶格參數。在XRD儀器中，樣品桿用于支撐樣品，并確保樣品在固定的位置和角度進行衍射實驗。

樣品制備儀器：在一些樣品制備儀器中，樣品桿用于操縱和調整樣品的位置，以確保樣品在制備過程中的正確定位和處理。

質譜儀器：在質譜儀器中，樣品桿用于將樣品送入質譜儀并定位在所需的位置，以便進行質譜分析。

光譜儀器：在一些光譜儀器中，樣品桿用于放置樣品，并將樣品對準光束的路徑，以便進行光譜分析。

樣品桿作為支撐和定位樣品的重要裝置，廣泛應用于各種科學研究和分析儀器中，幫助實現樣品的準確定位和穩定觀察。

PicoFemto透射電鏡多孔樣品桿

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